陶瓷針規(guī)用于測量孔距，孔深等距離，作為測量工具，那么對其檢測方法也肯定是有一定要求的，下面是科眾陶瓷廠對陶瓷針規(guī)的技術參數(shù)于檢測方法進行的簡單介紹。
 

針規(guī)有公制針規(guī)、英制針規(guī)等。針規(guī)是孔的標準化檢測必備工具，并廣范用于電子板、線路板、模具、精密機械制造等各種高精尖技術領域。

陶瓷針規(guī)的技術參數(shù)：粗糙度≤0.20um；熱處理HRC60～63；材料：釔穩(wěn)定氧化鋯材質。我廠可以定做各種非標針規(guī)。

陶瓷針規(guī)的檢測方法可以在高精度的測長儀上進行直接測量，或在接觸式干涉儀上進行比較測量，也可以用立式光學計或臥式光學計進行直接測量或比較測量 。

對于標稱尺寸小于 lmm，最大允許誤差小于±1um的針規(guī)，檢測直徑時，最好用高精度的測長儀進行直接測量。因為在接觸式干涉儀上用比較法進行檢測時，要將量塊和針規(guī)研合在一起，而針規(guī)太細，不太容易和量塊研合 ，如果是帶柄的針規(guī)，就更不容易和量塊研合了。

對于標稱尺寸在1～10mm范圍內，最大允許誤差大于±1um的針規(guī)，檢測直徑時，最好用臥式光學計，而不用立式光學計，因為檢測針規(guī)的直徑至少要在三個截面上，尤其在檢測針規(guī)兩頭的截面直徑時，很容易放置不平穩(wěn)，造成讀數(shù)不可靠。而用臥式光學計，使針規(guī)豎放，容易保持平穩(wěn)。

對于標稱尺寸大于10mm，最大允許誤差大于±1um的針規(guī)，可以用立式光學計進行檢測。針規(guī)一般是由氧化鋯陶瓷制造，有一定的自重，在檢測過程中要比尺寸小的針規(guī)容易放置平穩(wěn)。